在額定負載和固定輸入條件下，電源輸出(個(gè)或者 多個(gè))通常被指定了個(gè)個(gè)定值。但是，在實(shí)際使用中，電源輸出兒乎從來(lái)沒(méi)有精確地達到說(shuō)明書(shū)上給出的標稱(chēng)值，存在多種原因造成實(shí)際電源輸山電平偏離說(shuō)明書(shū)上的標稱(chēng)值。其中，元件的容差、電路的布線(xiàn)以及H相間的雜散寄生效應是最具代表性的三個(gè)原因。在這三個(gè)原因之中，電路的布線(xiàn)很不容易量化，因此在討論中將其忽略。相互間的寄生效應等效于添加一些元件， 因此，我們只討論元件對整流效果的影響。

    至少有三個(gè)次級因素構成了總的元件容差。山F存在材料的可變性以及工序和環(huán)境差異等原因，故所有的電了元件都具有初始容差。例如，在生產(chǎn)廠(chǎng)商提供的電阻數測表單中，可以看到容差這一項， 井且其在0.02%~5%范圍內不規律變化。此項的意義就是:已知一個(gè)指定的理想(標稱(chēng))值，實(shí)際值包絡(luò )在“(1+容差/100) x標稱(chēng)值”的上邊界和“(1-容差/100) x標稱(chēng)值”的下邊界之間。例如，如果一個(gè)電路選擇了一個(gè)2.2kQ容差為1%的電阻，那么該電阻的實(shí)際值將介于2.2x10' X(1+001) 2.2x10' X(- 0.01)日之間。

    每個(gè)元件且安裝在電路中， 并且開(kāi)始工作，除了被其他元件加熱外，其自身也產(chǎn)生熱量。熱量是溫度上升的根源。當元件的溫度變化時(shí)，元件值也發(fā)生變化。在元件的數據表單中，這些山溫度小致的元件值的變化被命名為溫度系數CTo,單位定義為: 10*/rC (百萬(wàn)分之一)成%/C.也就是，給出AT，可以認為元件值發(fā)生T: ATx10*或Te AT%的變化量。

給出個(gè)所謂的元州老化壽命衰減參數中如果元個(gè)情便在保護性的時(shí)間市高中，先正改支。這是由于料的壽命所決定的(Eeu), 其更多趨向于是種猜測而不是量化材料的壽命是不切實(shí)際的，通常還沒(méi)有敏使用，同樣認為元件值也發(fā)一個(gè)可 信的統計結果。

    理論上，在元件整個(gè)壽命中，元元件值在兩個(gè)極值間變動(dòng)，(1+初始客)10他的工作條件(開(kāi)關(guān)頻率，如果分析個(gè)轉換 器的閉合回路，迄今為止，我們似乎局限于對無(wú)源負載)、設備參數(整流器的順向壓降，例如(1.99)式，即元件(R. L和C)的容差進(jìn)行討論但是，馬上就會(huì )意識到還有許多其品體管的增益，運放的編移)和電壓變量(參考電壓，輸入電壓)在實(shí)際的輸出電所投有中的面重要角色。因此，它們的影響也必須給予考慮.這就是我們下步所要做的工作。